Применение метода конечных фотоупругих элементов к исследованию остаточных напряжений в монокристаллических пластинах, облученных ИК-лазером
Ключові слова:
Метод конечных фотоупругих элементов, ИК-лазер, остаточные напряженияАнотація
У роботі розглядається застосування методу кінцевих фотопружних елементів до дослідження залишкових напружень у кристалах опромінених ІК-лазером. Визначені залишкові напруження та помилка в їх значеннях. Доведено, що в припущенні двовимірних напружень величина помилки припустима , а сам метод визначення коректний.##submission.downloads##
Номер
Розділ
Статті