DOI: https://doi.org/10.20998/2078-9130.2010.69.49500

Применение метода конечных фотоупругих элементов к исследованию остаточных напряжений в монокристаллических пластинах, облученных ИК-лазером

А. А. Тесленко

Анотація


У роботі розглядається застосування методу кінцевих фотопружних елементів до дослідження залишкових напружень у кристалах опромінених ІК-лазером. Визначені залишкові напруження та помилка в їх значеннях. Доведено, що в припущенні двовимірних напружень величина помилки припустима , а сам метод визначення коректний.

Ключові слова


Метод конечных фотоупругих элементов; ИК-лазер; остаточные напряжения

Повний текст:

PDF (Русский)

Пристатейна бібліографія ГОСТ